吉時(shí)利KEITHLEY 高阻計(jì)/靜電計(jì)6517B

型　號(hào)6517B

產(chǎn)品時(shí)間2024-07-17

所屬分類(lèi)吉時(shí)利高阻計(jì)/靜電計(jì) 6517B

報(bào)價(jià)

產(chǎn)品描述：吉時(shí)利KEITHLEY 高阻計(jì)/靜電計(jì)6517B 提供的精度和靈敏度指標(biāo)是高于其他同類(lèi)型儀表。它豐富的功能使測(cè)量高阻和絕緣材料電阻率變得簡(jiǎn)單。吉時(shí)利KEITHLEY 6517B具有425讀數(shù)/秒的讀數(shù)率，比同類(lèi)型的靜電計(jì)顯著的快，可以提供快速、簡(jiǎn)易的方式測(cè)量弱電流。

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產(chǎn)品概述

吉時(shí)利KEITHLEY 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì)

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

吉時(shí)利KEITHLEY 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì)是一個(gè)新版本，取代了較早型號(hào)6517A(1996年推出)。Model 6517A的應(yīng)用軟件使用SCPI語(yǔ)言命令可以在Model 6517B上不做任何修改的運(yùn)行。不過(guò)，Model 6517B較 Model 6517A提供了一些有益的改進(jìn)和升級(jí)，其內(nèi)部備份電池內(nèi)存緩沖區(qū)現(xiàn)在可以存儲(chǔ)多達(dá)50,000讀數(shù)，使用戶(hù)能夠記錄更長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試結(jié)果，并存儲(chǔ)更多的數(shù)據(jù)和讀數(shù)。新的Model還可提供至內(nèi)部緩沖器（高達(dá)425讀數(shù)/秒的讀數(shù)率）以及通過(guò)IEEE總線(xiàn)至外部存儲(chǔ)器的更高讀數(shù)率（高達(dá)400讀數(shù)/秒的讀數(shù)率）。一些連接器的修改已列入解決現(xiàn)代連接和安全要求

二、主要參數(shù)：
吉時(shí)利KEITHLEY 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì) 簡(jiǎn)要參數(shù)：
電阻測(cè)量可達(dá)1016Ω
電流測(cè)量范圍1fA-20mA
小電流量程輸入壓降<20µV

200TΩ輸入阻抗

<3fA偏置電流
高達(dá)425rdgs/s
噪聲0.75fA p-p
內(nèi)置±1kV電源
*的高電阻測(cè)量電壓反接方法
可選的插件式掃描卡 Tel：86-755-22934005

三、選型表：

型號(hào)	電流	電壓	電阻	充電	源
6514	10aA - 100mA	10µV - 200V	10m? - 200G?	10fC - 20μC
6517B	100aA - 20mA	10µV - 200V	100? - 10P?	10fC - 2μC	0 - ±1000V
6430	10aA - 100mA	1µV - 200V	1µ? - >20T?		0 - ±200V Tel：86-755-22934005 0 - ±100mA

6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì) 特點(diǎn)	6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì) 優(yōu)勢(shì)
超低噪聲（6430 為 0.4fAp-p，6517B 和 6514 <1fA）	確保對(duì)設(shè)備和材料研究中常見(jiàn)的低電流實(shí)現(xiàn)精確的測(cè)量。
可達(dá) 1016? 的電阻測(cè)量 (6517B)	精確測(cè)量超高電阻材料和絕緣體。
遠(yuǎn)程預(yù)放大器可以位于信號(hào)源 (6430)	允許直接或短暫連接到信號(hào)源，大限度地減少電纜噪聲等噪聲源。
低輸入端壓降	消除影響低電流測(cè)量精度的誤差。
內(nèi)置 ±1kV 電壓源，提供掃描功能 (6517B)	簡(jiǎn)化了執(zhí)行泄漏、擊穿和電阻測(cè)試，以及對(duì)高電阻率材料執(zhí)行體積 (?-cm) 和表面電阻率 (?/square) 測(cè)量的過(guò)程。
適用于測(cè)量試樣材料的體積和表面電阻的選配 8009 型電阻率測(cè)試盒 (6517B)	防止您接觸潛在危險(xiǎn)電壓 — 打開(kāi)測(cè)試盒蓋子時(shí)自動(dòng)關(guān)閉儀器的電壓源。
即使在低電平信號(hào)上也能實(shí)現(xiàn)很好的測(cè)量速度	支持低電平元器件測(cè)試。
可編程數(shù)字 I/O 和內(nèi)置接口	簡(jiǎn)化構(gòu)建自動(dòng)化元器件測(cè)試系統(tǒng)的過(guò)程。